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在3C手機(jī)精密制造領(lǐng)域,藍(lán)光三維掃描技術(shù)正成為推動(dòng)產(chǎn)品創(chuàng)新的關(guān)鍵引擎。手機(jī)精密零部件,體積較小,精密度高,對加工工藝要求嚴(yán)苛。新拓三維XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀,適用于多品類小尺寸精密電子零部件的準(zhǔn)確三維數(shù)據(jù)獲取,進(jìn)行逆向工程以及三維全尺寸檢測,憑借其微米級精度和高效掃描特性,為精密電子制造行業(yè)提供發(fā)展助力。
XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀,采用短波段的藍(lán)光作為測量光源,可實(shí)現(xiàn)更高的光學(xué)分辨率(最高可達(dá)0.6μm),能精準(zhǔn)捕捉手機(jī)精密結(jié)構(gòu)件(如Type-C接口、手機(jī)注塑件,裝配件,曲面屏玻璃)的微觀特征;抗環(huán)境光干擾,確保在工業(yè)現(xiàn)場復(fù)雜光照條件下仍能穩(wěn)定工作。
另外,小幅面藍(lán)光三維掃描,配備200×150mm和100×75 mm小幅面工業(yè)相機(jī),確保聚焦細(xì)小零件表面,獲取精細(xì)的曲面輪廓細(xì)節(jié)特征。這些特性使小幅面藍(lán)光三維掃描成為消費(fèi)電子制造中尺寸檢測、形位公差分析的關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)。
一、產(chǎn)品設(shè)計(jì)與研發(fā)應(yīng)用
1、外觀設(shè)計(jì)驗(yàn)證
在手機(jī)結(jié)構(gòu)件設(shè)計(jì)過程中,正向二維軟件繪制難以準(zhǔn)確傳達(dá)產(chǎn)品三維形態(tài)和細(xì)節(jié)。XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀,可以對復(fù)雜輪廓結(jié)構(gòu)件進(jìn)行快速掃描,將其轉(zhuǎn)化為精確的三維數(shù)據(jù)模型。
通過精細(xì)的三維模型,可分析產(chǎn)品外觀,線條是否流暢、曲面是否光滑等,以便于及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)中存在的結(jié)構(gòu)輪廓瑕疵,確保產(chǎn)品符合設(shè)計(jì)要求。
2、尺寸精度控制
手機(jī)結(jié)構(gòu)件對于尺寸精度要求極高,XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀基于3D掃描數(shù)據(jù),可精確測量小尺寸零件尺寸偏差。在研發(fā)階段,可以獲取試樣實(shí)際尺寸數(shù)據(jù),并與設(shè)計(jì)圖紙上的標(biāo)準(zhǔn)尺寸進(jìn)行對比。
全尺寸3D檢測結(jié)果,有助于調(diào)整生產(chǎn)工藝,保證產(chǎn)品在批量生產(chǎn)時(shí)能夠嚴(yán)格符合尺寸要求,實(shí)現(xiàn)各部件之間的精準(zhǔn)裝配,提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性。
二、逆向工程應(yīng)用
1、競品分析
在快速迭代的消費(fèi)電子行業(yè),藍(lán)光三維掃描技術(shù)可用于競品分析,通過高效、完整獲取競品的三維數(shù)據(jù)模型,精準(zhǔn)復(fù)刻競品的人體工學(xué)設(shè)計(jì)細(xì)節(jié),快速識別產(chǎn)品差異點(diǎn),為產(chǎn)品創(chuàng)新提供數(shù)據(jù)支撐。
XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀,可用于精密結(jié)構(gòu)的逆向工程分析,高精度三維數(shù)據(jù)可細(xì)化分析競品,為差異化創(chuàng)新提供依據(jù),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品快速迭代和競爭力的階梯式提升。
2、產(chǎn)品改型升級
XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀,可用于對舊產(chǎn)品進(jìn)行掃描,獲取3D數(shù)字模型,并對舊產(chǎn)品的外觀、結(jié)構(gòu)或功能進(jìn)行優(yōu)化,延長產(chǎn)品的生命周期。
三、質(zhì)量控制與檢測
1、成品檢測
XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀,可對批量生產(chǎn)的成品進(jìn)行全面的三維掃描,獲取成品的實(shí)際形狀和外觀數(shù)據(jù)。將掃描數(shù)據(jù)與設(shè)計(jì)模型進(jìn)行對比,批量檢測尺寸偏差(如手機(jī)中框、背板、手機(jī)曲面玻璃配合尺寸等)等質(zhì)量問題。
2、零部件檢測
在手機(jī)零件生產(chǎn)過程中,尺寸精度至關(guān)重要。XTOM-COMBINE小幅面藍(lán)光三維掃描儀可以各類小零部件(如手機(jī)外殼、筆電鍵盤、顯示屏等)進(jìn)行三維掃描,獲取其實(shí)際形狀和尺寸數(shù)據(jù)。
將掃描數(shù)據(jù)與CAD原始設(shè)計(jì)文件進(jìn)行對比,可分析形狀缺陷(如鑄造缺陷、沖壓缺陷等)、尺寸偏差(如螺絲孔位置偏差、零件厚度偏差等)等質(zhì)量問題,及時(shí)發(fā)現(xiàn)并剔除不合格零部件,保證產(chǎn)品的整體質(zhì)量。
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